频率特性测试

对于射频集成电路，如手机中的射频前端芯片，半导体探针可用于测试芯片的频率特性。通过将探针连接到芯片的射频输入和输出端口，可以测量芯片在不同频率下的增益、带宽、插入损耗等参数。例如，在 5G 通信芯片的研发过程中，需要精确测量其在毫米波频段（如 28GHz 或 39GHz）的频率特性，半导体探针能够在晶圆级提供准确的测试数据，帮助工程师优化芯片的射频电路设计，以满足 5G 通信对于高速数据传输的要求。

匹配网络测试
射频芯片中的匹配网络对于实现高效的功率传输和信号匹配至关重要。半导体探针可以用于测试匹配网络的性能。在设计蓝牙芯片时，其内部的射频匹配网络需要将芯片的输入输出阻抗与外部天线或其他电路进行良好匹配。通过使用半导体探针测量匹配网络两端的阻抗参数，工程师可以调整匹配网络的元件值，确保在整个蓝牙工作频段（2.4GHz 左右）内实现最佳的匹配效果，提高蓝牙通信的稳定性和效率。