产品简介：

半导体测试针又称“双头探针”。常用内针头型有B,B1,D,F,F1,H等，体积细小，测试精度要求较高。按结构分为:双头--单动探针、双头--双动探针 系列。主要用于各类通讯功率电子部件、半导体晶圆测试、芯片封装测试等环节极低的接触电阻，超高的带宽，可以满足5-40G高频率信号测试要求。